Knihy od autora Manoj Sachdev

Zobrazené 1 – 8 z 8 výsledkov

1. 

   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2008

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   252.22 €

   Kúpiť
2. 

   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Andrei Pavlov, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2008

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   227.13 €

   Kúpiť
3. 

   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Arman Vassighi, Manoj Sachdev | Springer, Berlin, 2010

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   139.57 €

   Kúpiť
4. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   277.21 €

   Kúpiť
5. 

   ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies

   Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev | Springer, 2010

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   252.22 €

   Kúpiť
6. 

   Thermal and Power Management of Integrated Circuits

   Arman Vassighi, Manoj Sachdev | Springer-Verlag New York Inc., 2006

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   139.57 €

   Kúpiť
7. 

   CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

   Andrei Pavlov, Manoj Sachdev | Springer, 2010

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Brožovaná

   227.13 €

   Kúpiť
8. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2007

   
   

   Skladom u dodávateľa v malom množstve - Odosielame za 14 - 18 dní

   Jazyk: Angličtina

   Väzba: Pevná

   277.21 €

   Kúpiť

Vracajúci sa zákazníci majú zľavy a ďalšie benefity. Zistite viac